METROLOGIA 2019 - De 24 a 27 de Novembro de 2019 - Contato: metrologia2019@metrologia.org.br

Certificados

Certificado - Participação

Certificado - Avaliadores

Certificado - Coordenadores de Sessão

Certificado - Apresentações - Poster

Certificado - Apresentações - Oral

Galeria

24/11/2019

25/11/2019

26/11/2019

27/11/2019

Apresentações

Confira abaixo as gravações do evento.

24 de Novembro Domingo  
Apresentação
Horário
Evento Apresentação
16 h – 18 h Credenciamento  
18 h – 20 h Cerimônia de Abertura Apresentação
Américo Tristão Bernardes (SBM)
Visão SENAI: desafios da metrologia na indústria 4.0 Apresentação
Jocinei Dognini (SENAI)
Mario Cezar de Aguiar  
Presidente da FIESC e Presidente do Conselho Regional do SENAI/SC  
Desafios atuais da saúde e soluções com uso da óptica Apresentação
Vanderlei Bagnato - Universidade de São Paulo - USP
20 h – 22 h Coquetel de boas-vindas

 

25de Novembro Segunda-Feira  
Horário Evento Apresentação

9 h - 9h 45 min

Segurança Cibernética e Segurança Metrológica

Apresentação

Jonny Doin (GridVortex)

9 h 45 min - 10 h 30 min

SISMETRA - Sistema de Metrologia Aeroespacial

Apresentação

Poster - Riscos à imparcialidade

Vídeo 1

Vídeo 2

Vídeo 3

Cesar Augusto Botura (IFI)
10 h 30 min - 11 h INTERVALO
11 h – 12 h 40 min SESSÃO PARALEAS 1  
12 h 40 min – 14 h ALMOÇO

14 h - 15 h 40 min

SESSÃO PARALEAS 2  
15 h 40 min INTERVALO

16 h – 18 h

Lançamento do Livro Incerteza da Medição  
Sessão de Poster 1

 

26 de Novembro Terça-Feira  
Horário Evento Apresentação
9 h – 9 h 45 min Exchange of metrological data for the use In machine to machine comunication In Industry 4.0 Apresentação
Thomas Wiedenhöfer (PTB)

9 h 45 min – 10 h 30 min

Fueling Industry 4.0 through e Revolution In Metrology
Barbara Goldstein
10 h 30 min – 11 h INTERVALO

11 h – 12 h 40 min

Sessões Paralelas 3
12 h 40 min – 14 h ALMOÇO

 

27 de Novembro Quarta-Feira  
Horário Evento Apresentação
9 h – 9 h 45 min Bioengenharia e Bioprinting: metrologia para ampliar a Inovação Apresentação
José Mauro Granjeiro (Inmetro)

9 h 45 min – 10 h 30 min

Caracterização de fibras capilares: A ciência da medição por trás da indústria de beleza Apresentação
Nathália Ferro de Oliveira (L'Oreal)
10 h 30 min – 11 h INTERVALO

11 h – 12 h 40 min

Interferometria em ambientes hostis - do sonho à realidade Apresentação
Armando Albertazzi (UFSC)
Sessão de Poster 2
12 h 40 min – 14 h ALMOÇO
14 h – 15 h 40 min Sessão Paralelas 6  
16 h – 18 h Metrologia para um mundo 4.0  
Digitalização de Serviços de Metrologia Legal Apresentação
Mauricio Santos Condessa (Inmetro)
Marcos Trevisam (Inmetro)  
Mesa redonda: Os desafios da qualidade 4.0 para os próximos anos  
Massao Ito (ABRAC)  
Marcos Aurélio Lima (Inmetro)  
Rutson Aquino (FCA - Fiat Chrysler Automóveis)